NộI Dung
Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) và kính hiển vi điện tử quét (SEM) là các phương pháp hiển vi để xem các mẫu vật cực nhỏ. TEM và SEM có thể được so sánh trong các phương pháp chuẩn bị mẫu và ứng dụng của từng công nghệ.
TEM
Cả hai loại kính hiển vi điện tử bắn phá mẫu vật bằng điện tử. TEM phù hợp để nghiên cứu bên trong các đối tượng. Stained cung cấp độ tương phản và cắt cung cấp mẫu vật siêu mỏng để kiểm tra. TEM rất phù hợp để kiểm tra virus, tế bào và mô.
SEM
Các mẫu được kiểm tra bởi SEM yêu cầu một lớp phủ dẫn điện như vàng-palađi, cacbon hoặc bạch kim để thu thập các điện tử dư thừa có thể che khuất hình ảnh. SEM rất phù hợp để xem bề mặt của các vật thể như các tập hợp và mô đa phân tử.
Quá trình TEM
Một khẩu súng điện tử tạo ra một dòng các electron được tập trung bởi một thấu kính tụ. Chùm tia ngưng tụ và các electron truyền được tập trung bởi một vật kính vào một hình ảnh trên màn hình hình ảnh phốt pho. Các vùng hình ảnh tối hơn biểu thị rằng các electron được truyền đi ít hơn và các vùng đó dày hơn.
Quy trình SEM
Như với TEM, một chùm electron được tạo ra và ngưng tụ bởi một thấu kính. Đây là một ống kính khóa học trên SEM. Một thấu kính thứ hai tạo thành các electron thành một chùm mỏng, chặt chẽ. Một bộ cuộn dây quét chùm tia theo cách tương tự như truyền hình. Một ống kính thứ ba hướng chùm tia vào phần mong muốn của mẫu vật. Chùm tia có thể dừng lại ở một điểm xác định. Chùm tia có thể quét toàn bộ mẫu vật 30 lần mỗi giây.